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原位SEM产品

  

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主要功能为在纳米分辨的二次电子成像和背散射成像(EBSD)的观察条件下,实现室温至1200℃高温的拉伸、压缩、三点弯曲等原位力学试验。主要用于研究各类材料在力、热以及耦合条件下的力学性能测试与微观组织结构演变机制研究。该仪器也可兼备匹配各类光学显微镜(OM)、X射线衍射仪(XRD)和原子力显微镜(AFM)等材料微观分析仪器。    

双向对称加载,保证样品中心变形区在SEM视场中心;
●  高稳定性加载,高精度测量;
●  可与主流扫描电镜集成兼容,达到高分辨成像、高精度测控、长时间稳定运行;
●  高速数据采集与存储,显微图像和温度、力、位移等物理信号同步检测;
●  通过热电子抑制技术,解决了900
~1200℃高温条件下热电子淹没SEM二次电子信号的成像,二次电子探测器、EBSD探测器电磁信号干扰成像的问题。
● 通过对称加载和高精度实时反馈控制,解决了高倍放大成像过程中样品受力、受漂移问题;
空间结构布局合理,能够同时实现二次电子、EBSD的最佳成像;


● 
 消除了夹具扭矩变形,提高了测试精度,减小了测试误差;
●  减速结构合理,输出扭矩平稳,保证高精度高稳定性测试要求
●  全自动控制,软件测试功能齐全;
●  具有自锁功能,随时启停,适合实时原位研究;
●  结构紧凑,易于安装,便于携带。


真空与镀膜产品